Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего...

Main
Technique - Nanotechnology
Исследование пленок и наноструктур с...

Исследование пленок и наноструктур с помощью сканирующего зондового микроскопа. Лабораторный практикум: Учебное пособие

Антоненко С.В.

0 / 0

Sukakah Anda buku ini?

Bagaimana kualitas file yang diunduh?

Unduh buku untuk menilai kualitasnya

Bagaimana kualitas file yang diunduh?

Kategori:

Technique - Nanotechnology

Tahun:

2011

Penerbit:

МИФИ

Bahasa:

russian

Halaman:

96

ISBN 10:

5726214285

ISBN 13:

9785726214283

File:

PDF, 4.84 MB

IPFS:

,

russian, 2011

Membaca daring

Pengubahan menjadi sedang diproses

Pengubahan menjadi gagal

Mungkin Anda tertarik

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Миронов В.Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Пронин Александр Александрович — Физические основы нанотехнологий

Кухаренко, Л. В. — Сканирующая зондовая микроскопия для анализа медико-биологических объектов

Габдуллин П.Г. и др. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия.

Тарасова Н. В. — Атомно-силовая микроскопия в материаловедении наносистем

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Авачёв А. П., Вишняков Н. В., Гололобов Г. П., Митрофанов К. В. — Методические пособия для проведения лабораторных работ по направлению «Наноматериалы»

Волкова Е. В., Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. — Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии: Практикум

Шабанов Ш. Ш., Кардашова Г. Д., Даллаева Д. С. — Сканирующая зондовая микроскопия для исследования керамических материалов: пособие к курсу лекций

Корнилов В. М., Галиев А.Ф.;рец.: Асфандиаров Н.Л., Рахмеев Р.Г. — Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания

Баранов А.В., Литвин А.П., Парфенов П.С., Ушакова Е.В. — Техника физического эксперимента в системах с пониженной размерностью. Часть 2. Лабораторный практикум

Корнилов В.М., Галиев А.Ф. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

Усанов Д.А., Яфаров Р.К. — Исследование поверхности материалов методом сканирующей атомно-силовой микроскопии

Агеев О.А., Федотов А.А., Смирнов В.А. — Методы формирования структур элементов наноэлектроники и наносистемной техники. Учебное пособие. Часть 1

Гусенко И.В. — Изучение методов сканирующей зондовой микроскопии

Габдуллин П.Г., Костюченко З.А., Поречная Н.И. — Физика нанокомпозитных материалов. Сканирующая зондовая микроскопия

Битюцкая Л.А. и др. (сост.) — Нанотехнологии в физике. Дистанционная лаборатория атомно-силовой микроскопии нанообъектов. Часть 1: Тестирование. Обработка и анализ изображения

Андреева Н.В., Габдуллин П.Г. — Физика и диагностика биомолекулярных систем. Исследования методами зондовой микроскопии

Булыгина Е.В., Макарчук В.В. и др. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Круглов А.В., Голубок А.О. — Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография

Булыгина Е.В., Макарчук В.В., Панфилов Ю.В., Оя Д.Р., Шахнов В.А. — Наноразмерные структуры: классификация, формирование и исследование

Лямкин А.И. — Экспериментальные методы исследований (Презентация)

Федоров А.В., Баранов А.В., Литвин А.П., Черевков С.А. — Специальные методы измерения физических величин

Кривелевич С. А., Насонова М. О., Яросл. гос. ун-т им. П. Г. Демидова — Сканирующая туннельная микроскопия (80,00 руб.)

Чистоедова И. А. — Оборудование для создания и исследования свойств объектов наноэлектроники

Коллектив авторов — Сергеев, В. А. Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1. : методические указания к лабораторным работам

Коллектив авторов — Исследование микро- и наноструктур методами сканирующей зондовой микроскопии. В 2 ч. Ч. 1 : лабораторный практикум

Миронов В. Л. — Основы сканирующей зондовой микроскопии

Методичка. — Исследование наноматериалов с помошчью сканируюшчей зондовой микроскопии

Филатов Д.О., Круглов А.В. — Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Гущина Ю.Ю. — Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы

Филатов Д.О., Круглов А.В., Левичев В.В. — Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ): Описание лабораторной работы

Istilah kunci

поверхности

сканирования

изображения

провести

установить

микроскопии

измерений

изображение

литографии

кантилевера

управления

проведения

расстояние

сканировании

выполнения

обратной

отображения

постоянной

щелкнуть

образцов

измерения

колебаний

завершения